原标题：iPhone 6 Plus存新质量问题 恐大规模召回

　　iPhone 6 Plus存在质量上的问题，其会频繁死机，可能是使用的TLC NAND存储器控制IC的问题。

　　本身供应就不多iPhone 6 Plus接连爆出问题，这次又有新的事情发生。

　　台媒、韩国给出的最新报道称，iPhone 6 Plus存在质量上的问题，其会频繁死机，可能是使用的TLC NAND存储器控制IC的问题。

　　报道中强调，苹果为了节省成本，使用了TLC NAND存储器控制，虽然存容量更多，但是读取/写入的速度比较慢。

　　之前已经有不少果粉在苹果的官方论坛表示，自己的iPhone 6 Plus送修多次，最夸张的一位送修了4次依然没有解决问题。业内人士指出，这很可能是iPhone内部NAND Flash控制的IC品质瑕疵所导致。

　　如果这是真的，那么苹果或将因此宣布大规模召回。